2020年7月2日木曜日

デバイスモデリングに必要なtrrの測定回路基板 のご提供開始


本日のご案内は、デバイスモデリングに必要なtrrの測定回路基板
のご提供開始のご案内です。
マルツエレックからの販売になります。
部品の入手性の都合上、限定20台になります。


商品詳細ページは下記のURLになります。

ダイオード逆回復特性測定回路基板【MEB-SEMI-TRR】

https://www.marutsu.co.jp/pc/i/1634333/


また、法人様のご購入の場合、下記のメールアドレスまで、
ご連絡下さい。

ご請求書でのお支払いご希望の方は、ご連絡下さい。


horigome@marutsu.co.jp


IFIR法によるダイオードの逆回復特性(trr)測定用回路基板

●特長

高温時の逆回復特性値取得ができる

損失を考慮した回路設計ができる


●仕様

MEB-SEMI-TRRは、IFIR法によるダイオードの逆回復特性(trr)
を測定するための回路基板です。
IF側及びIR側の電源と
オシロスコープを準備することで、trrの波形を取得することが
できます。


trrは、trj+trbの要素で構成されていますが、データシート
にはtrrの数値の記載しかなく、
trj、trbの波形形状からの考察
ができません。trrの波形形状を把握することで、損失を考慮した
回路設計を設計をすることができます。


対象は、一般ダイオード、ショットバリアダイオード(SiCを含む)
で有効です。また、逆回復特性は、
高温時では、スイッチング損失
において、大きく影響します。

高温時のtrrの値はデータシートには
記載がなく、高温測定を
行い、把握する
必要性もあります。そんな状況下でも有効な
回路基板になります。


近年は、SPICEの普及もあり、trrは、ダイオードの
デバイスモデリングに必須の抽出項目です。

trr値の取得の際にも役立ちます。ダイオードの要素があるLED、
フォトカプラの入力ダイオードなどにも
応用可能です。


是非、この機会にご検討下さい。


ブログは、下記のページになります。

http://beetech-icyk.blogspot.com/


ダイオードのデバイスモデリングの参考情報は、こちら

ご参照下さい。