Working in Lab
2009年8月5日水曜日
SiC BJT VBE(Sat)-Ic特性
昨日、本日でSiCのBJTの測定を行っている。
1つシリコンのBJTと大きく異なる点が解った。
VBE(Sat)-Icの測定結果において、VBE(Sat)の値が、Siデバイスと比較して、非常に大きい値である事が解った。
IC/IB=10の条件において、
2.8-3.2Vである。
悩ましい測定結果になってしまった。
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